CPM-078
規格
Unit : mm
| Materials and finishes | ||
| 頭針 | BeCu / Au Plated | |
| 尾針 | BeCu / Au Plated | |
| 針管 | P.B. / Au Plated | |
| 彈簧 | Music Wire / Au Plated | |
| Mechanical | ||
| 彈力 | 30grams @0.8mm | |
| 最大行程 | 1.8mm | |
| 建議行程 | 0.8mm | |
| 使用壽命 | 500K | |
| 頻寬 | -0.293dB@20GHz | |
| Electrical | ||
| 額定電流 | 3A | |
| 接觸電阻 | <100mΩ | |
在半導體測試領域，精度和可靠性至關重要。日月光測試探針配備以下規格，旨在滿足並超越行業的苛刻要求：
材料和表面處理：該探頭採用 BeCu/Au 鍍頂部柱塞、BeCu/Au 鍍底部柱塞、PB/Au 鍍圓筒和 Music Wire/Au 鍍彈簧，可確保最佳的導電性、耐腐蝕性、和耐用性。即使在最具挑戰性的測試環境中，這些精心挑選的材料和飾面也能保證可靠且一致的測試結果。
機械特性：該探頭在 0.8 毫米處具有 30 克的彈簧力，可在測試過程中提供完美的壓力以實現精確接觸。其 1.8 毫米的全行程距離為容納各種測試設置提供了充足的空間，從而實現了靈活性和適應性。建議的行程為 0.8 毫米，可確保最佳性能和精確測量。該探頭的機械壽命為 500K 次循環，可承受長期使用而不會影響其機械完整性。
帶寬和電氣規格：該探頭在 20GHz 時擁有令人印象深刻的 -0.293dB 帶寬，非常適合高頻應用。其電氣特性包括 3A 的額定電流，可為苛刻的測試要求提供高效的電力傳輸。接觸電阻低於 100mΩ，可最大程度地減少信號損失並保證整個測試過程中可靠的電氣連接。