CPM-100

Unit : mm

材料和表面處理：
半導體測試探針採用優質材料製成，以確保最佳性能。柱塞頂部和柱塞底部均由 BeCu（鈹銅）製成，並塗有高級 Au（金）鍍層。槍管由黃銅製成，還具有鍍金功能，以增強導電性和耐用性。彈簧由音樂線製成，鍍有金，具有優異的電氣性能和耐腐蝕性。

機械精度：
該探頭具有出色的機械精度，非常適合各種半導體測試應用。1.9 毫米處的彈簧力為 70 克，確保接觸安全可靠。3.1 毫米的全行程距離可滿足多種測試要求，而建議的 1.9 毫米行程距離可保證最佳性能。該探頭的機械壽命為 500K 次循環，可承受重複使用並保持一致的結果。

令人印象深刻的帶寬和電氣規格：
半導體測試探針提供卓越的電氣性能。它在 20GHz 時擁有令人印象深刻的 -0.26dB 帶寬，確保高頻信號傳輸準確可靠。它的額定電流為 2A，可以滿足苛刻的功率要求，適用於各種半導體器件。接觸電阻保持在 100mΩ 以下，最大限度地減少信號損失並確保精確測量。