CPM-110
Unit : mm
CPM-110B1B1-25.5L
| Materials and finishes | ||
| 頭針 | BeCu / Au Plated | |
| 尾針 | BeCu / Au Plated | |
| 針管 | P.B. / Au Plated | |
| 彈簧 | Music Wire / Au Plated | |
| Mechanical | ||
| 彈力 | 45grams @2.2mm | |
| 最大行程 | 3.6mm | |
| 建議行程 | 2.2mm | |
| 使用壽命 | 500K | |
| 頻寬 | -0.387dB@20GHz | |
| Electrical | ||
| 額定電流 | 2A | |
| 接觸電阻 | <100mΩ | |
Unit : mm
CPM-110DF-6.2L
| Materials and finishes | ||
| 頭針 | BeCu / Au Plated | |
| 尾針 | BeCu / Au Plated | |
| 針管 | Phosphor Bronze / Au Plated | |
| 彈簧 | SWPB / Au Plated | |
| Mechanical | ||
| 彈力 | 40grams @0.6mm | |
| 最大行程 | 1.6mm | |
| 建議行程 | 0.6mm | |
| 使用壽命 | 500K | |
| 頻寬 | -0.25dB@20GHz | |
| Electrical | ||
| 額定電流 | 2A | |
| 接觸電阻 | <100mΩ | |
材料和表面處理：
CPM-110B1B1-25.5L 測試探頭採用優質材料製成，以確保最佳功能。柱塞頂部和柱塞底部由 BeCu（鈹銅）製成，並塗有優質 Au（金）鍍層。發條盒由 PB（磷青銅）製成，鍍金，而彈簧則由音樂線製成，也鍍金。這些材料和飾面增強了導電性和耐用性，確保了可靠的性能。
機械精度：
該測試探針具有出色的機械精度，適用於各種半導體測試應用。2.2 毫米處的彈簧力為 45 克，可提供牢固而穩定的接觸。3.6 毫米的全行程距離可滿足多種測試需求，而推薦的 2.2 毫米行程距離可確保最佳性能。該探頭的機械壽命為 500K 次循環，可承受長時間使用並保持一致的結果。
令人印象深刻的帶寬和電氣規格：
CPM-110B1B1-25.5L 測試探頭提供卓越的電氣性能。它在 20GHz 下實現了 -0.387dB 的出色帶寬，即使在高頻下也能實現精確且準確的信號傳輸。它的額定電流為 2A，可以滿足苛刻的功率要求，適用於各種半導體器件。接觸電阻保持在 100mΩ 以下，最大限度地減少信號損失並確保可靠的測量。
型號：CPM-110DF-6.2L
材料和表面處理：
CPM-110DF-6.2L 測試探頭還採用高品質材料和表面處理。柱塞頂部和柱塞底部由鈹銅製成並鍍有金，確保優異的電氣性能和耐用性。槍管由磷青銅製成，鍍金，彈簧由 SWPB（方線磷青銅）製成，也鍍金。這些材料提供最佳的導電性和堅固性。
機械精度：
CPM-110DF-6.2L 測試探針在 0.6 毫米處具有 40 克的彈簧力，可提供精確可靠的接觸。1.6mm 的全行程距離為各種測試要求提供了靈活性，而推薦的 0.6mm 行程距離保證了準確的結果。即使在苛刻的測試環境中，其 500K 循環的機械壽命也能確保長久的使用壽命和一致的性能。
令人印象深刻的帶寬和電氣規格：
CPM-110DF-6.2L 測試探頭具有出色的電氣性能。它在 20GHz 下實現了 -0.25dB 的帶寬，從而實現了精確的信號傳輸和準確的測量。額定電流為 2A，接觸電阻低於 100mΩ，可確保高效的功率處理和最小的信號損失。
總之，CPM-110 系列測試探頭為半導體測試提供卓越的性能和可靠性。憑藉優質材料、精確的機械特性和令人印象深刻的電氣規格，這些探頭可提供準確且一致的結果。無論您是測試集成電路、晶體管還是其他半導體元件，您都可以依靠 CPM-110 系列來提供精確的測量，並有助於保證電子設備的質量。