Пробник с нагруженной платой

Пробник с нагруженной платой

Компания Chunglai CPM, обладающая более чем 25-летним опытом работы с тестовыми датчиками ICT с нагруженными платами, является лучшим производителем датчиков ICT по всему миру.
Испытательный щуп с нагруженной платой применяется для проверки нагруженных печатных плат. Распространенными методами тестирования нагруженных плат являются ICT (внутрисхемное тестирование) и FCT (функциональное тестирование). Оба метода проверяют работу компонентов и схемных соединений для обнаружения дефектных компонентов во время производства. ICT и FCT обеспечивают нормальную работу нагруженных печатных плат за счет оценки характеристик соединения тестируемых компонентов в воспроизведенной среде будущей области применения и контроля электрических характеристик компонентов для оценки комплексного соединения цепи.
Для идеального тестирования можно использовать различные типы зондов. Зонды различаются по монтажной длине, возможному промежутку между зондами, форме наконечника и интерфейсам. Окончательное тестирование может быть выполнено вместе с комбинацией плавильного модуля и соединителя с обмоткой ротора в проводной или беспроводной формах и может обнаруживать примерно 90% дефектов.
Chunglai CPM является производителем датчиков ИКТ, который производит все виды тестовых датчиков ИКТ уже более 25 лет.